利用導模法(EFG)生長的半絕緣型及導電型Ga2O3晶體,加工得到2英寸氧化鎵襯底。
關鍵指標
1.雙晶搖擺半高寬:≤350"
2.載流子濃度:1x1016~1019cm-3
3.位錯密度:< 1x104cm-2
4.晶面偏差:<±1°
5.粗糙度:Ra≤0.5nm